آنالیز میکروسکوپ تونلی روبشی STM و میکروسکوپ نیروی روبشی SFM

scanning tunneling microscope (STM) 

Scanning Force Microscopy (SFM)

آنالیز میکروسکوپ تونلی روبشی STM و میکروسکوپ نیروی روبشی  SFM

ABSTRACT

Scanning tunneling microscopy (STM) and its offspring, scanning force microscopy (SFM) , are real-space imaging techniques that can produce topographic images of a surface with atomic resolution in all three dimensions. Almost any solid surface can be studied with STM or SFM : insulators, semiconductors, and conductors, transparent as well as opaque materials. Surfaces can be studied in air, in liquid, or in ultrahigh vacuum, with fields of view from atoms to greater than 250*250um. With this flexibility in both the operating environment and types of samples that can be studied, STM/SFM is a powerful imaging system.

       

 جهت دانلود رایگان نسخه لاتین این مقاله اینجا کلیک کنید .

چکیده

آنالیز میکروسکوپ تونلی روبشی (STM) و نسل آن، میکروسکوپ نیروی روبشی (SFM) روش های تصویربرداری با اندازه حقیقی هستند که می توانند تصاویر توپوگرافیک سطح با وضوح اتمی در هر سه بعد ایجاد کنند. تقریبا همه سطوح جامد می توانند با STM و SFM مطالعه شوند: عایق ها، نیمه رساناها و رساناها، مواد شفاف و همچنین مواد اپک. سطوح می توانند در هوا، در مایع یا در خلا بسیار بالا با دامنه دید در حد اتمی تا 250×250μm بررسی شوند. با این انعطاف در محیط کاری و انواع نمونه ها که می توانند بررسی شوند، STM/SFM یک سیستم تصویربرداری قدرتمند است.