رسوب نشانی الکتروشیمیایی کادمیوم تلوریم نانوکریستال

Synthesis and characterization of electrochemically

deposited nanocrystalline CdTe thin films

شناسایی و سنتز لایه های نازک نانوکریستال CdTe

به روش رسوب نشانی الکتروشیمیایی

ABSTRACT

Electrodeposition is emerging as a method for the synthesis of semiconductor thin films and nanostructures. In this work we prepared the nanocrystalline CdTe thin films on indium tin oxide coated glass substrate from aqueous acidic bath at the deposition temperature 50 ± 1 °C. The films were grown potentiostatically from −0.60 V to −0.82 V with respect to saturated calomel reference electrode. The structural, compositional, morphological and optical properties were investigated using X-ray diffraction (XRD), energy dispersive analysis by X-rays (EDAX), atomic force microscopy (AFM), and UV–vis spectroscopy respectively and cyclic voltammetery. The structural and optical studies revealed that films are nanocrystalline in nature and possess cubic phase, also the films are preferentially oriented along the cubic (1 1 1) plane. The effect of cadmium composition on the deposited morphology was also investigated. The size dependent blue shift in the experimentally determined absorption edge has been compared with the theoretical predictions based on the effective mass approximation and tight binding approximation. It is shown that the experimentally determined absorption edges depart from the theoretically calculated values.

   

 جهت دانلود رایگان نسخه لاتین این مقاله اینجا کلیک کنید .

چکیده

رسوب نشانی (لایه نشانی) الکتریکی به عنوان روشی جهت سنتز لایه های نازک و نانوساختارهای نیمه هادی مطرح شده است. در این پژوهش ما لایه های نازک نانوکریستالی CdTe را روی زیرلایه شیشه ای پوشش دهی شده با اکسید قلع ایندیوم، از حمام اسیدی و در دمای رسوب نشانی C° 1 ± 50، تولید کردیم. این لایه ها با در نظر گرفتن الکترودهای مرجع اشباع شده با جیوه، از V 60/0- الی V 82/0-  به طور پتانسیواستاتیک (potentiostatically) رشد کردند. ساختار، ترکیب، خواص نوری و مورفولوژی به ترتیب با استفاده از پراش اشعه X (XRD)، طیف سنجی واگرا با اشعه X (EDAX)، میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و طیف سنج مرئی- فرابنفش و "ولت سنجی چرخه ای"، مورد ارزیابی قرار گفت. ساختار و مطالعات نوری نشان داد که لایه ها ماهیت نانوکریستالی داشته و فاز مکعبی دارند و همچنین لایه ها به طور ترجیحی در صفحه مکعبی (1 1 1) جهت گیری کرده اند. اثر ترکیب کادمیم روی مورفولوژی لایه های رسوب نشانی شده نیز تحلیل شد. وابستگی "جابجایی به سوی آبی " در لبه جذب تعیین شده به روش تجربی، به اندازه ذرات، با پیش بینی های تئوری بر اساس روش های "تقریب جرم موثر" و "تقریب تنگابست"، مقایسه شد. نشان داده شد که لبه های جذب تعیین شده به روش تجربی، با اندازه گیری انجام شده به روش تئوری فاصله دارد.